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标题:土壤结构土粒的形状孔隙结构分析显微镜

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2019-7-31 0:40:33 将本页加入收藏

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正文:

土壤结构土粒的形状孔隙结构分析显微镜

    测定目的
    住进行上壤调查中,要观察、记录各层位的上粒(辗土上粒和次生土粒
)与所形成的空间——孔隙、裂缝、管道等的形状。各层位的:上壤密度或
孔隙度,是随土层内土拉的大小、次生土粒的稳定性、土粒的排列形式和
孔隙形状而不同的。这些是支配各层位,进而支配着整个土层的上壤透水
性、保水力、力学强度、通气性、客气量等当时的土壤物理性的基本因素
。因而,观察土壤结构的主要目的,是根据规定方法对上层内上粒的大小
和孔隙度进行客观的记载,以便为考察土壤发生

    土壤结构的认识
    以往,多数是把结构和孔隙度分开来考虑的,土壤结构主要仅指土粒
的形状,而孔隙度则放在土壤机械部分,但也有人主张,上粒的结合和排
列状态是土壤结构的基本内容,含是形成和借以观察孔隙性的“’,还有
人认为,土壤结包两个方面,从土粒方面看,;它是上壤的晶格结构,从
土粒构之间的孔隙方面看,则是孔隙结构。”,这种见解,是把土粒的形
状、排列和孔隙性,看成表里一体,不可分离的土壤特征而得出的,仪此
作者认为,根据布鲁尔定义”;将土壤结构看成是“根据上粒和孔隙
的大小、形状以及排列·

   孔隙性分类 
  孔隙性是根据孔隙的形状、大小来分类,除了考虑孔隙的形状,大小之
外,还考虑了孔隙在土层内的分布状况。
    在调查土壤结构中,如调查旱地土壤或森林土壤时,可将表层土壤握
在手中,或者将土块放在手掌间轻轻加压,然后用放大镜观察压碎之碎片
,并记录之。对下层土的结构,可以从挖试坑时抛出的碎片形状或将土块
轻压即可成为碎片的形状判定。 










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